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PCB電路板上為什么需要有測(cè)試點(diǎn)?

文章出處:常見問題 責(zé)任編輯:東莞市可為電子有限公司 發(fā)表時(shí)間:2021-12-31
  

在PCB線路板行業(yè)中,在線路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)是在自然不過的事了,可是對(duì)于剛接觸PCB線路板的新人來說,測(cè)試點(diǎn)是什么?不免是個(gè)疑問,那么今天PCB廠家小編帶您了解,PCB線路板上為什么要設(shè)置測(cè)試點(diǎn)。

簡(jiǎn)單來說,設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的主要是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒有符合規(guī)格以及焊性,比如說想檢查一顆電路板上的電阻有沒有問題,最簡(jiǎn)單的方法就是拿萬用電表量測(cè)其兩頭就可以知道了。

可是在大量生產(chǎn)的線路板廠里沒有辦法讓你用電表慢慢去量測(cè)每一片板子上的每一顆電阻、電容、電感、甚至是IC的電路是否正確,所以就有了所謂的ICT自動(dòng)化測(cè)試機(jī)臺(tái)的出現(xiàn),它使用多根探針(一般稱之為「針床」治具)同時(shí)接觸板子上所有需要被量測(cè)的零件線路,然后經(jīng)由程控以序列為主, 并列為輔的方式循序量測(cè)這些電子零件的特性,通常這樣測(cè)試一般板子的所有零件只需要1~2分鐘左右的時(shí)間可以完成,視電路板上的零件多寡而定,零件越多時(shí)間越長(zhǎng)。

但是,如果讓這些探針直接接觸到線路板子上面的電子零件或是其焊腳,很有可能會(huì)壓毀一些電子零件,反而適得其反,所以聰明的工程師就發(fā)明了「測(cè)試點(diǎn)」,在零件的兩端額外引出一對(duì)圓形的小點(diǎn),上面沒有防焊,可以讓測(cè)試用的探針接觸到這些小點(diǎn),而不用直接接觸到那些被量測(cè)的電子零件。

早期在電路板上面還都是傳統(tǒng)插件的年代,PCB廠家的確會(huì)拿零件的焊腳來當(dāng)作測(cè)試點(diǎn)來用,因?yàn)閭鹘y(tǒng)零件的焊腳夠強(qiáng)壯,不怕針扎,可是經(jīng)常會(huì)有探針接觸不良的誤判情形發(fā)生,因?yàn)橐话愕碾娮恿慵?jīng)過波峰焊或是SMT吃錫之后,在其焊錫的表面通常都會(huì)形成一層錫膏助焊劑的殘留薄膜,這層薄膜的阻抗非常高, 常常會(huì)造成探針的接觸不良,所以當(dāng)時(shí)經(jīng)常可見線路板工廠產(chǎn)線的測(cè)試作業(yè)員,經(jīng)常拿著空氣噴槍拼命的吹,或是拿酒精擦拭這些需要測(cè)試的地方。

其實(shí),經(jīng)過波峰焊的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)有探針接觸不良的問題。后來SMT盛行之后,測(cè)試誤判的情形就得到了很大的改善,測(cè)試點(diǎn)的應(yīng)用也被大大地賦予重任,因?yàn)镾MT的零件通常很脆弱,無法承受測(cè)試探針的直接接觸壓力,使用測(cè)試點(diǎn)就可以不用讓探針直接接觸到零件及其焊腳,不但保護(hù)零件不受傷害,也間接大大地提升測(cè)試的可靠度,因?yàn)檎`判的情形變少了。

不過,隨著科技的演進(jìn),電路板的尺寸也越來越小,小小地電路板上面光要擠下這么多的電子零件都已經(jīng)有些吃力了,所以測(cè)試點(diǎn)占用電路板空間的問題,經(jīng)常在設(shè)計(jì)端與制造端之間拔河,不過這個(gè)議題等以后有機(jī)會(huì)再來談。測(cè)試點(diǎn)的外觀通常是圓形,因?yàn)樘结樢彩菆A形,比較好生產(chǎn),也比較容易讓相鄰探針靠得近一點(diǎn),這樣才可以增加針床的植針密度。

PCB電路板上為什么需要有測(cè)試點(diǎn)?

使用針床來做電路測(cè)試會(huì)有一些機(jī)構(gòu)上的先天上限制,比如說:探針的最小直徑有一定極限,太小直徑的針容易折斷毀損。

針間距離也有一定限制,因?yàn)槊恳桓樁家獜囊粋€(gè)孔出來,而且每根針的后端都還要再焊接一條扁平電纜,如果相鄰的孔太小,除了針與針之間會(huì)有接觸短路的問題,扁平電纜的干涉也是一大問題。

某些高零件的旁邊無法植針。如果探針距離高零件太近就會(huì)有碰撞高零件造成損傷的風(fēng)險(xiǎn),另外因?yàn)榱慵^高,通常還要在測(cè)試治具針床座上開孔避開,也間接造成無法植針。電路板上越來越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)。

由于線路板越來越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如 Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG等;也有其它的測(cè)試方法想要取代原本的針床測(cè)試,如AOI測(cè)試儀、X-Ray,但目前每個(gè)測(cè)試似乎都還無法100%取代ICT。

測(cè)試點(diǎn)的最小直徑及相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小距離,通常多會(huì)有一個(gè)希望的最小值與能力可以達(dá)成的最小值,但有規(guī)模的線路板廠家會(huì)要求最小測(cè)試點(diǎn)與最小測(cè)試點(diǎn)間距離不可以超過多少點(diǎn),因此PCB廠家在生產(chǎn)板時(shí)會(huì)留有更多的測(cè)試點(diǎn)。